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PCB化镍鈀金膜厚测试仪

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基本参数
服务项目 浏览量1 发布时间2013-10-23
品牌美国博曼 所在地广东 深圳 起订≥1 台
供货总量未填 发货0天内发货 有效期至2025-03-09
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详细说明

x-ray膜厚测试仪(膜厚测试仪)只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。 双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。 双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。

五金电镀行业又称:镀层膜厚测试仪,膜厚测试仪,电镀测厚仪,电镀层测厚仪,电镀膜厚测试,无损膜厚仪,X射线膜厚仪。
线路板行业又称:镀层测厚仪,金镍测厚仪,X-ray测厚仪,X荧光镀层测厚仪。
LED支架行业又称:支架膜厚仪,支架镀层测厚仪,支架功能区测厚仪,银层测厚仪。
其他行业:无损镀层测厚仪,大型膜厚仪,台式镀层测厚仪,金属层测厚仪。
用途:测量各种电镀件金属层厚度,无损测量,不破坏测量样品、快速简洁只需要10秒即可测量出结果,最多可同时测量5层。
涉及行业:PCB,连接器,LED支架,端子,卫浴洁具,半导体,元器件,珠宝,检测中心、研究院校等。

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