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供应半导体X射线膜厚测试仪

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基本参数
服务项目 浏览量4 发布时间2013-11-21
品牌美国博曼 所在地广东 深圳 起订≥1 台
供货总量未填 发货0天内发货 有效期至2025-03-09
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详细说明
半导体BOWMAN  X射线荧光电镀膜厚测试仪检测金属镀层膜厚厚度的仪器,保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费. 典型的應用範圍如下:
单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。 
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。 
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。  
半导体BOWMAN  X射线荧光电镀膜厚测试仪是通过.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素。
博曼线路板电镀镀层膜厚测试仪应用于PCB.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意,为客户创造最大的价值是金东霖追求的目标,因为我们坚信,客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图,有需要的朋友请联系周小姐,联系电话:0755-29371651
美国博曼(BOWMAN)X射线荧光膜厚测试仪应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素,BOWMAN膜厚测试仪高分辨硅-PIN-***器,配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量:单一镀层、二元合金层、三元合金层、双镀层等 ,应用于端子,连接器,细小的金线,在五金,汽车配件.线路板.卫浴,等行业

 

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