半导体芯片性能测试仪器

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半导体芯片性能测试仪器认准普赛斯仪表，国产自主研发，厂家直销！性价比高，测试范围更广，输出电压高达300V，支持USB存储，一键导出报告，符合大环境下国内技术自给的需求，可及时与客户沟通，为客户提供高性价比系统解决方案，及时指导客户编程，加速测试系统开发，详情请联系普赛斯仪表销售专员为您解答一八一四零六六三四七六

产品特点
5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作

内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV

源及测量的准确度为0.1%，分辨率5位半

四象限工作（源和肼），源及测量范围：电流100pA~1A，电压0.3mV~300V

丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

支持USB存储，一键导出测试报告

支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网

半导体芯片性能测试仪器技术参数

最大输出功率：30W，4象限源或肼模式；

源限度：电压源：±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；

电流源：±1.05A（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；

过量程： 105%量程，源和测量；

稳定负载电容：<22nF；

宽带噪声(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）；

线缆保护电压：输出阻抗1KΩ，输出电压偏移<80uV；

最大采样速率：1000 S/s；

触发：支持IO触发输入及输出，触发极性可配置；

输出接口：前后面板香蕉头插座输出，同一时刻只能用前或者后面板接口；

通信口：RS-232、GPIB、以太网；

电源：AC 100~240V 50/60Hz；

工作环境：25±10℃；

尺寸：106mm高 × 255mm宽 × 425mm长；

半导体芯片性能测试仪器应用

•分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件；

•能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等

•传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等

•有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等

•纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等 

•有关半导体芯片性能测试仪器的更多信息请咨询生产厂家普赛斯仪表专员一八一四零六六三四七六
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