LIV 即光电特性，是验证激光二极管、探测器性能的普遍的方法。在晶圆、切割、管芯、封装后老化测试过程中，为降低生产成本同时增加产品吞吐量，快速可靠的LIV测试系统对制造光电器件的工厂是很重要的。
根据Laser Diode工作原理，通常技术人员要用到电流源来驱动 LD 工作，产生光的同时用光功率计测量光功率来完成LIV特性测试。在不同的测试阶段例如Chip 测试，技术人员将电流源、电压表、电流表、开关、同步触发单元、光功率计集成起来才能完成测试，同时老化测试前后需要将每个管芯或模块的测试数据进行比对，大大增加了系统的复杂程度，影响了测试精度和数据可靠性。
普赛斯仪表开发的LIV测试系统采用国产S型数字源表为核心，结合测试软件以及第三方设备积分球探测器完成LD的LIV测试。系统结构简单、精度高、可靠性好、速度快，提高生产效率的同时也增加了测试精度和可靠性，并且降低了测试成本。
需要测试的参数：
驱动电流I,正向压降Vf
光功率Po
阈值电流Ith
拐点Ikink,背光电流Idark
需要仪器列表：
S型国产源表
积分球
可变光源
软件
高校相关专业
微电子，材料专业
有关源表之激光二极管LD的LIV特性测试实验的更多信息请咨询一八一四零六六三四七六
