服务项目 | 浏览量12 | 发布时间2016-09-13 |
品牌TESTRAM | 所在地上海 徐汇 | 起订≥1 套 |
供货总量未填 | 发货0天内发货 | 有效期至2025-03-09 |
RFID综合测试仪T8200UD是针对近场非接触式IC卡、天线(基于ISO/IEC14443 Type A, Type B, ISO/IEC18092 Passive Mode即Type C索尼的Felica卡),以及非接触IC卡(ISO/15693Tag-It, I-CODE SLI), IC标签的共振频率,Q值和插入损耗(insertion loss)进行检测,根据设定值判定待测物PASS/FAIL的设备。
检测频率: 500KHz ~ 300MHz
测定项目: 不同的制品,通过制作对应的检测天线,可以检查各式制品
○ 共振频率 ○非接触式IC卡
○ 衰减量 ○NFC搭载的制品
○ Q值 ○着装芯片之前的RFID天线
通过设定各个待测项目的设定值进行检测,并可以通过保存测量特性波形及测定值,管理RFID产品的品质。