ROHS重金属检测

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    ROHS重金属检测SPECTRO ARCOS以其独具匠心的创新性设计，可极好的满足研发、工业、环保、石化、地质、生化等领域的用户需要，尤其适合复杂基体样品的分析。

光学系统

    优化的帕邢-龙格光学系统，再加上由铝合金所铸造的基座，为ICP技术创造了一个里程碑，它拥有史无前例的性能，在130nm到340nm光谱范围里像素分辨率是3pm,340nm或以上的光谱范围里像素是6pm。这种固定的分辨率值只能在帕邢-龙格光学系统上实现，它的优势在于能够以高分辨率的模式分析复杂基体（富谱线光谱），从而改善测量的精度。

值得一提的是，帕邢-龙格光学系统能在130nm到770nm光谱范围里，进行一级光谱的全图谱数据采集，就算是在远紫外区也能得到良好的灵敏度，这对于卤素测试，痕量元素分析，或是一些在远紫外区谱线灵敏度比较好的元素，都帮助很大。对于复杂基体的分析，通过选择在远紫外区不受干扰的谱线进行分析，可简化方法建立的流程和提高分析的精确度。

远紫外区光学系统

    光室采用氩气循环的方式，并装备有有净化装置的隔膜泵，保证了远紫外区域分析的灵敏度和仪器的长期稳定性，避免了使用吹扫——光室气氛不稳定，或真空装置——光学元件易被污染的问题。

在远紫外区光学系统（UV-PLUS）里，不使用吹扫或真空装置，因此无须更换或清洁任何光学器件，所以远紫外区光学系统不需任何维护。

    除了能在130nm到180nm这个远紫外区光谱范围里高灵敏度分析，它还可大幅度降低运行成本，在整个仪器使用周期里，与吹扫装置的ICP相比，远紫外区光学系统（UV-PLUS）可节省相当于三分之一的仪器采购成本。

SPECTRO ARCOS的优越之处包括全新的、长寿命、免维护的陶瓷管固态发生器，波长范围可达到130nm的远紫外区光学系统，动态范围可达到8个量级的数据处理器，以及高达10Hz的测量频率。

专利的智能逻辑校正系统ICAL持续监控SPECTRO ARCOS的工作状况，确保仪器在最佳的状态下运行。

图形化操作界面的SMART ANALYZER VISION操作软件，具有高度灵活的、清晰的架构，操作简单，无论是按照规范去定义测试流程，数据重处理还是自行建立方法，直观的操作界面一定让使用者得心应手，该软件可让SPECTRO ARCOS完全满足国家或行业的法规和需求。

本软件的其他功能包括，自动存储分析方法，瞬间测量和自动优化。

检测器与数据读出系统

    SPECTRO ARCOS使用32个线性检测器在130nm到770nm光谱范围进行一级光谱的全谱数据采集，与其他采用CCD检测器的ICP相比，SPECTRO ARCOS的检测器在实现极低的暗电流噪声基础上，将工作温度设定为15℃，这样既保证了仪器的灵敏度，又无须使用大流量、高纯度的保护性气流吹扫检测器表面，大大降低了日常运行费用，而且还可避免因环境温度波动带来的干扰。

每一个CCD均有独立的数字信号处理器。双CPU、32通道的高速数据读出系统对信号进行再处理。所有32个CCD，可在2秒内完成全谱信号的采集和运算；每一个像素的积分时间可根据信号强度而自动调整，数据读出系统能以10Hz的频率处理瞬间信号，可与LC.HPLC等联机使用。

快速的数据读出和高达8个数量级的动态范围，能有效消除溢出效应，并可在无须稀释样品的情况下直接进行痕量元素分析。

激发光源

    激发光源采用风冷式陶瓷振荡管和高精度固态电源，频率为27.12MHz，输出功率为0.7至1.7KW，保证了SPECTRO ARCOS的等离子体有异乎寻常的稳定性。

免维护的激发光源无需任何电子或移动元件协助运行，可独立调整共振频率以适应各种样品，在测量各种变化很大的基体时，等离子体也可保持稳定。

相对于40.68MHz，27.12MHz拥有更大的频宽以适应各种基体复杂的样品。

在进行大负荷（如：有机样品等）样品分析时，一般需要消耗很大的功率，但是SPECTRO ARCOS的高频陶瓷振荡管以及完全由计算机控制的高精度固态电源，可有效降低功率消耗，减少能量损失，提高耦合效率和延长系统寿命。在等候情况下，操作者可选择“待机模式”，以减少功率和氩气的消耗。

等离子体接口

    水平观测模式最适合进行痕量元素分析，专利的Optical Plasma Interface (OPI)接口，能有效提高灵敏度，可获得比垂直观测模式好十倍的检出限。

    传统的ICP在水平观测模式时会采用“尾焰切割”或“延长炬管”来消除基体干扰的问题，而OPI则是直接穿透等离子体，把尾焰吹开，彻底消除基体干扰。如果没有OPI，在同时处理各种变化很大的基体时，尤其是在环保方面的样品，会使得等离子体处于不稳定状态，并造成不良影响，例如回收率变差。

    借助十多年的实际应用经验，OPI在经过进一步的改进后，简化了维护，并可确保精确定位。

    在进行高精度和高准确度分析时，垂直观测模式SPI (Side-On Plasma Interface)是最佳的选择，它的优点是能够在分析高盐、有机、悬浮状样品时提供更好的精度和准度。

    全计算机控制的炬管定位系统，能自动优化OPI接口与等离子体的距离以及SPI接口的观测高度，这些设定可以与其他参数一起随方法保存，并可自动随方法调出使用。

进样系统

    样品是通过一个位于仪器右边的四通道蠕动泵进入仪器，这种设计能大幅缩短样品流程和冲洗时间，从而极大地缩短了总分析时间。

    利用全计算机控制的冲洗程序和自动进样器的协助，可进一步优化分析时间，对于一些工作量相对很大的分析，例如地质、土壤和油品测试，SPECTRO ARCOS可轻易完成每天1000个样品的测试。

宽敞和隔热的样品进样室，可以配合不同种类的进样系统，智能化的定位装置设计，使得雾化器和炬管的安装轻而易举，无须费时费力再校准。

    冷却氩气、辅助氩气、雾化器氩气和附加氩气完全由软件控制，在方法中这些参数都能单独更改和独立储存，在需要时，自动优化程序会调整各项参数，该功能可让初学者更快掌握仪器的使用。

软件

    SPECTRO ARCOS采用的SMART ANALYZER VISION软件，各项功能一目了然，操作直观、简便，它满足了现代实验室的需求，也可以和LIMS系统结合使用。其它软件功能还包括数据重处理：也就是说更改已存储数据的参数或重选其它谱线，然后再进行分析。